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QUALITÀ Grata piana TS7700 dello spettrofotometro di fonte Silk della luce UV per sostituire il METRO di INTENSITÀ CR400 Fabbrica
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QUALITÀ Grata piana TS7700 dello spettrofotometro di fonte Silk della luce UV per sostituire il METRO di INTENSITÀ CR400 Fabbrica
QUALITÀ Grata piana TS7700 dello spettrofotometro di fonte Silk della luce UV per sostituire il METRO di INTENSITÀ CR400 Fabbrica
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Grata piana TS7700 dello spettrofotometro di fonte Silk della luce UV per sostituire il METRO di INTENSITÀ CR400

Marchio: Silk
Numero di modello: TS7700
Luogo di origine: Cina
Certificazione: CE, TUV, FCC, RoHS, ISO9001
Quantità minima di ordine: 1unit
Prezzo: Please send inquiry
Capacità di fornitura: 500 unità al mese

Dettagli del prodotto


La geometria ottica: d/8° SCE/SCI: SCE & SCI
Fonte della luce UV: Repeatibility: ΔE*≤0.02
accordo dello Inter strumento: ΔE*≤0.15 Apertura di misurazione: 8mm & 4mm
Evidenziare

spettrofotometro del laboratorio del cacciatore

,

strumenti di misurazione del colore

Descrizione del prodotto

Descrizione di prodotto
Costruito per la prestazione e l'affidabilità, lo spettrofotometro TS7700 è uno strumento di misura del superiore de line destinato per valutare precisamente il colore e l'aspetto dei campioni opachi e fluorescenti. Questa alta precisione, spettrofotometro versatile è usata per valutare, riprodurre e contribuire a controllare il colore e l'aspetto dei campioni in un processo più efficace e più aerodinamico. Le sue capacità avanzate e prestazione costante permettono agli utenti di formulare efficientemente ed abbinare le norme di qualità del colore, di mantenere la consistenza in ogni lotto di materiale e di contribuire a comunicare il colore senza cuciture internamente ed in tutto la catena di fornitura. Ciò fa l'ideale TS7700 per analisi cromatica, la formulazione e le ispezioni di controllo di qualità all'interno degli ambienti di fabbricazione e del laboratorio.
Modello
TS7700
La geometria ottica
Rifletta: Di: 8°, de: 8° (illuminazione, angolo di visione diffusi di 8 gradi)
SCI (componente speculare inclusa) /SCE (componente speculare esclusa); Comprenda fonte UV/esclusa della luce UV
Si conforma al CIE No.15, GB/T 3978, il GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7
Caratteristico
doppie aperture per analisi cromatica e la trasmissione accurate in laboratorio
È utilizzato per la misurazione del colore ed il controllo di qualità precisi nella stampa di plastica di elettronica, della pittura e dell'inchiostro, del tessuto e dell'indumento
e tingere, stampare, ceramica ed altre industrie e per la misura fluorescente del campione.
Dimensione della sfera di integrazione
Φ40mm
Sorgente luminosa
Sorgente luminosa completa combinata di spettro LED, fonte della luce UV
Modo spettrofotometrico
Pianamente grattando
Senso
Matrice del fotodiodo del silicio (doppia fila 40 gruppi)
Lunghezza d'onda
400~700nm
Intervallo di lunghezza d'onda
10nm
Larghezza di Semiband
10nm
Gamma misurata di riflettanza
0-200%
Apertura di misurazione
MAV: Φ8mm/Φ10mm; SAV: Φ4mm/Φ5mm
Componente speculare
SCI&SCE
Spazio di colore
LABORATORIO del CIE, XYZ, Yxy, LCh, CIE LUV, s-RGB, HunterLab, βxy, BACCANO Lab99 Munsell (C/2)
Formula di differenza di colore
ΔE*ab, ΔE*uv, ΔE*94, ΔE*cmc (2: 1), ΔE*cmc (1: 1), ΔE*00, DINΔE99, ΔE (cacciatore)
L'altro indice colorimetrico
WI (ASTM E313, CIE/ISO, AATCC, cacciatore),
YI (ASTM D1925, ASTM 313),
Indice MI di metameria,
Macchiando solidità, stabilità del colore, forza di colore, opacità,
8° lucentezza, una classificazione di 555 toni
Angolo dell'osservatore
2°/10°
Sostanza illuminante
D65, A, C, D50, D55, D75, F1, F2 (CWF), F3, F4, F5, F6, F7 (DLF), F8, F9, F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83/U30)
Dati visualizzati
Spettrogramma/valori, valori di cromaticità dei campioni, valori/grafico, risultato di PASS/FAIL, contrappeso di differenza di colore di colore
Tempo di misurazione
Circa 1.5s (SCI di misura & SCE circa 3.2s)
Ripetibilità
Riflettanza spettrale: MAV/SCI, deviazione standard all'interno di 0,08% (400 nanometro a 700 nanometro: all'interno di 0,18%)
Valore di cromaticità: MAV/SCI, all'interno di ΔE*ab 0,02 (quando un piatto bianco di calibratura è misurato dopo 30 volte a 5 secondi intervalli
calibratura bianca)
errore dello Inter strumento
MAV/SCI, all'interno di ΔE*ab 0,15
(Media per 12 mattonelle di colore di serie II di BCRA)
Modo di misura
Singola misura, misura media (2-99times)
Individuazione del metodo
Macchina fotografica che individua, posizione trasversale dello stabilizzatore
Dimensione
L*W*H=129X76X217mm
Peso
600g approssimativo
Batteria
batteria dello Li-ione, 6000 misure entro 8 ore
Durata della sostanza illuminante
5 anni, più di 3 milione misure di volte
Dati visualizzati
LCD di colore di 3.5-inch TFT, touch screen capacitivo
Porto di dati
USB, Bluetooth 4,2
Archiviazione di dati
I pc di norma 1000, provano 30000 pc
Lingua
Cinese semplificato, inglese, cinese tradizionale
Condizioni di funzionamento
0~40℃, 0~85%RH (nessuna condensazione), altitudine < 2000m="">
Ambiente di stoccaggio
-20~50℃, 0~85%RH (nessuna condensazione)
Accessorio standard
Alimenti l'adattatore, la guida dell'utente, cavità bianca e nera del software del PC (download dal sito Web dell'ufficio), del cavo di USB, di calibratura, protettiva
La copertura, cinghia di polso, apertura piana di 8mm, 8mm fornisce di punta l'apertura, apertura piana di 4mm, apertura di punta di 4mm
Accessorio facoltativo
Micro stampante, scatola della prova della polvere
Note
Le specifiche sono conforme a cambiamento senza preavviso.
Immagini dettagliate
TS7700 viene con 4 aperture, l'apertura piana di 8mm, l'apertura di punta di 8mm, l'apertura piana di 4mm, l'apertura di punta di 4mm ed un bordo bianco & nero di calibratura.

Punti salienti del prodotto

Descrizione di prodotto Costruito per la prestazione e l'affidabilità, lo spettrofotometro TS7700 è uno strumento di misura del superiore de line destinato per valutare precisamente il colore e l'aspetto dei campioni opachi e fluorescenti. Questa alta precisione, spettrofotometro versatile è usata ...

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