Un cliente nella fabbrica di plastica è venuto al nostro ufficio a controllare la nostra prestazione dello spettrofotometro del nuovo prodotto TS7600 ed hanno detto altamente parlato di TS7600. È molto accuratezza ed il piano o le aperture di punta è molto buone affinchè i campioni differenti misuri.
Lo speciale il software del controllo di qualità è molto buono da fare molti prova di colore e comprende i codici colori del Cu di pantone nel software che possiamo trovare il migliore colore con il pantone. Questa funzione è molto stupefacente. La gradiscono molto.
Il migliore aspetto importante perché lo comprano sono il risultato dei test sono molto molto vicini a CM-700D, che è molto costoso e poche funzioni.
Qui è la specificazione dello spettrofotometro TS7600.
| Modello | Spettrofotometro TS7600 |
| La geometria ottica | Rifletta: Di: 8°, de: 8° (illuminazione, angolo di visione diffusi di 8 gradi) |
| SCI (componente speculare inclusa) /SCE (componente speculare esclusa); fonte esclusa della luce UV | |
| Si conforma al CIE No.15, GB/T 3978, il GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 | |
| Caratteristico | Su misura un'apertura, è utilizzato per la misurazione del colore e controllo di qualità precisi nell'elettronica di plastica, pittura ed inchiostro, tessuto e stampa e tintura dell'indumento, stampare, ceramica ed altre industrie e per la misura fluorescente del campione. |
| Dimensione della sfera di integrazione | Φ40mm |
| Sorgente luminosa | Sorgente luminosa completa combinata di spettro LED, fonte della luce UV |
| Modo spettrofotometrico | Pianamente grattando |
| Senso | Matrice del fotodiodo del silicio (doppia fila 40 gruppi) |
| Lunghezza d'onda | 400~700nm |
| Intervallo di lunghezza d'onda | 10nm |
| Larghezza di Semiband | 10nm |
| Gamma misurata di riflettanza | 0-200% |
| Apertura di misurazione | Su misura un'apertura: MAV: Φ8mm/Φ10mm; SAV: Φ4mm/Φ5mm |
| Componente speculare | SCI&SCE |
| Spazio di colore | LABORATORIO del CIE, XYZ, Yxy, LCh, CIE LUV, s-RGB, βxy, Munsell (C/2) |
| Formula di differenza di colore | ΔE*ab, ΔE*uv, ΔE*94, ΔE*cmc (2: 1), ΔE*cmc (1: 1), ΔE*00 |
| L'altro indice colorimetrico | WI (ASTM E313, CIE/ISO, AATCC, cacciatore), |
| YI (ASTM D1925, ASTM 313), | |
| Macchiando solidità, stabilità del colore, forza di colore, opacità, | |
| Lucentezza 8°, | |
| Angolo dell'osservatore | 2°/10° |
| Sostanza illuminante | D65, A, C, D50, F2 (CWF), F7 (DLF), F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83/U30) |
| Dati visualizzati | Spettrogramma/valori, valori di cromaticità dei campioni, valori/grafico, risultato di PASS/FAIL, contrappeso di differenza di colore di colore |
| Tempo di misurazione | Circa 1.5s (SCI di misura & SCE circa 3.2s) |
| Ripetibilità | Riflettanza spettrale: MAV/SCI, deviazione standard all'interno di 0,1% (400 nanometro a 700 nanometro: all'interno di 0,2%) |
| Valore di cromaticità: MAV/SCI, all'interno di ΔE*ab 0,04 (quando un piatto bianco di calibratura è misurato 30 volte a 5 secondi intervalli dopo la calibratura bianca) | |
| errore dello Inter strumento | MAV/SCI, all'interno di ΔE*ab 0,2 (Media per 12 mattonelle di colore di serie II di BCRA) |
| Modo di misura | Singola misura, misura media (2-99times) |
| Individuazione del metodo |
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